X射线荧光光谱法同时快速测定锑矿石中伴生及有害元素

摘要：

采用粉末压片制样,波长色散型X射线荧光光谱法测定锑矿石中9个次量伴生及有害元素Cu、Pb、Zn、As、Co、Ni、W、Ba、S.选用国家标准物质和人工合成标准参考物质建立校准工作曲线,采用经验系数法和散射线内标法校正基体效应和元素重叠干扰.方法的检出限低、精密度(RSD,n=12)小于5％,测定结果与参考值或化学值一致性良好.与化学法相比,操作简单、快速、准确度高,精密度好,有效解决化学法在锑矿石伴生、有害等微量组分分析中过程烦琐、干扰严重等问题.

关键词：X射线荧光光谱法、粉末压片、锑矿石、伴生及有害元素

所属期刊栏目：20

分类号：O657.3(分析化学)

资助基金：甘肃省科技计划资助1306FTGA011

在线出版日期：2016-11-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：98-102