10.3969/j.issn.1006-3757.2008.03.004
平面双核酰亚胺酞菁铁的激光解吸电离飞行时间质谱分析
应用激光解吸电离飞行时间质谱法(LDI-TOF-MS)对平面双核酰亚胺酞菁铁相对分子量进行了测定.探讨了3种不同基质对其分析结果的影响,结果发现基质并不能完全解离样品,而不加任何基质的激光质谱得到了理想的结果.
平面双核酰亚胺酞菁铁、激光解析电离飞行时间质谱
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O657.32(分析化学)
2008-11-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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