熔融制样X-射线荧光光谱法(内标法)测定石灰石中CaO、MgO和SiO2

摘要：

石灰石的主要成分是CaCO3、 MgCO3、 SiO2 , 是冶金中较为重要的一种原料. 目前石灰石的分析方法主要是化学湿法分析、 X荧光压片分析法. 压片法存在矿物效应以及基体效应等问题影响分析结果准确度;化学分析法则存在采用较多的化学药品, 分析步骤繁琐、 分析时间长、化学终点颜色判断困难等问题; 另外, 对于熔融制样, 因石灰石熔融过程中随着碳酸盐分解, 样品质量会根据烧损产生变化, 导致荧光分析强度随烧损率的不同产生不同的偏大现象, 实际实验过程中发现熔融制样过程中, 烧损率的变化对MgO和SiO2 的分析结果影响不大, 但是对CaO的分析存在较大影响, 并且熔融的过程中碳酸盐不完全分解也会影响结果准确度. 本文采用加入SnO2 内标法对CaO进行分析, 极大的降低了基体效应对CaO 的影响, 分析速度以及分析结果完全满足生产需求.

在线出版日期：2018-08-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：125-126