试论低频数字式相位测试仪的设计

摘要：

过零检测法并不是普遍概念,不过再低频数字式相位测试仪上的应用却较为广泛.本文依据该方法,借助ATR单片机模式,以及重要的可编程逻辑器件,实现一套相对稳定的测试仪开发逻辑,希望能够为我国相关研究领域,提供一定的理论借鉴.

关键词：低频数字式相位测试仪

分类号：TN9;O4

在线出版日期：2016-10-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：156-157