表面镀铑对X射线荧光能谱测定白色K金首饰成分含量影响的研究

摘要：

本文研究表面镀铑对X射线荧光能谱测定白色K金首饰成分含量影响,用一次靶(Rh)测首饰成分含量,用二次靶(Sn)测镀层厚度,系统研究含量与镀Rh层厚度之间函数关系.结果表明随着铑层厚度增加,所测的Au,Ag元素含量将会增加.Cu,Ni元素含量将会减少,因此必须进行修正.

关键词：表面镀铑、X射线荧光能谱分析

所属期刊栏目：12

分类号：O6(化学)

在线出版日期：2006-03-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：1824-1825