带有InGaAs覆盖层的InAs量子点红外探测器材料的发光与光电响应
利用分子束外延技术(MBE),在GaAs(001)衬底上自组织生长了不同结构的InAs量子点样品,并制备了量子点红外探测器件.利用原子力显微镜(AFM)和光致发光(PL)光谱研究了量子点的表面结构、形貌和光学性质.渐变InGaAs层的插入有效地释放了InAs量子点所受的应力,抑制了量子点中In组分的偏析,提高了外延层的生长质量,降低了势垒高度,使InAs量子点荧光波长红移.伏安特性曲线和光电流(PC)谱结果表明,生长条件的优化提高了器件的红外响应,具有组分渐变的InGaAs层的探测器响应波长发生明显红移.
InAs量子点、InGaAs渐变层、光致发光、分子束外延、红外探测器
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O482.31;O484.41(固体物理学)
2009-07-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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