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10.3321/j.issn:1000-7032.2003.02.012

GaN的声表面波特性研究

引用
采用金属有机物化学气相外延方法在(0001)面蓝宝石上生长了高质量、高阻的未掺杂(0001)面GaN薄膜.为精确测量GaN薄膜材料的声表面波特性,在GaN薄膜表面上沉积了金属叉指换能器,叉指换能器采用等叉指结构,叉指的数目为40对,叉指间距为15μm.采用脉冲法测量了声表面波在自由表面和金属表面上的速度,并通过计算得到了机电耦合系数(κ2).所测量的声表面波速度(v)为5 667m/s,机电耦合系数(κ2)为1.9%.

GaN、声表面波速度、机电耦合系数

24

O472.31(半导体物理学)

国家自然科学基金60086001,69906002;国家重点基础研究发展计划973计划G20000683

2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

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1000-7032

22-1116/O4

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2003,24(2)

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