影响光纤测头检测特性的耦合效率分析
在反射式光纤测头开发过程中,光源与光纤耦合的耦合效率、被测面反射回的信号光耦合进光纤测头的效率等,直接影响测头的检测精度,是光纤测头开发的关键环节.而耦合效率决定于耦合透镜与光纤间的相对耦合位置有关,并受透镜表面的反射以及光纤端面的反射所干扰.针对该影响测头耦合特性的关键点,利用高斯传输定理、模式匹配原理和矩阵光学的理论加以分析,得出对半导体激光器与光纤耦合系统结构的设计具有指导意义的结论,对提高半导体激光器与光纤耦合系统的耦合效率提供理论依据,为光纤测头的开发奠定了基础,并进行了实验分析.
光纤测头、耦合效率、高斯光束
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O4(物理学)
2008-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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