光纤环形腔衰荡光谱技术在多模光纤弯曲损耗测量中的应用

摘要：

光纤环形腔衰荡光谱技术是一种新颖的、灵敏的吸收光谱技术.利用这种技术,通过测量衰荡时间来实现对多模光纤弯曲损耗的测量.实验结果表明,当弯曲半径小于30mm时,光纤的弯曲损耗明显增大;当弯曲半径大于35mm时,衰荡时间趋向一个定值.有效传播常数β同波数k的比值是有效折射率,其实验值是1.4864,处在光纤芯层折射率(n1=1.50)和包层折射率(n2=1.486)之间.

关键词：光纤环形腔衰荡光谱技术、衰荡时间、多模光纤、弯曲损耗、有效传播常数

所属期刊栏目：29

分类号：O4(物理学)

资助基金：福建省教育厅科研项目JA050194;福建省科技厅科研项目2002J018;福建省科技厅科研项目K04021

在线出版日期：2008-06-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：30-33