点缺陷半径变化对光子晶体直接耦合结构THz波调制器性能的影响

摘要：

点缺陷构成的微腔对THz波调制器的性能起着决定性的作用,而在实际制作加工过程中,由于工艺的原因,光子晶体的结构参量会产生偏差,难以制备出孔径毫无偏差的光子晶体,且介质柱的放置位置不能达到完全精确,因此光子晶体器件的性能也因此会受到一定程度的影响.文中重点讨论了点缺陷介质柱的半径变化对直接耦合结构的THz波调制器性能的影响,为光子晶体调制器的实际制作和相应的误差分析提供了理论帮助.

关键词：复式晶格、光子晶体、直接耦合、太赫兹波、调制器

所属期刊栏目：14

分类号：TN761(基本电子电路)

资助基金：国家自然科学基金61077084

在线出版日期：2012-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：14-16