期刊专题

10.3969/j.issn.1563-4795.2011.11.012

基于AOstar算法的最优诊断生成组件的设计与实现

引用
最优诊断树是电子可测性设计与分析的重要研究内容,也是电子系统故障隔离的基础.针对国内对最优故障诊断树研究和应用的需求,介绍了采用启发式AO* (AOstar)算法求解最优故障诊断树的方法,并将该算法封装实现为COM组件.与国外可测性分析软件TEAMS生成的诊断树结果对比分析,表明结果准确,组件易扩展,可以方便的嵌入到可测性设计与分析以及故障诊断软件之中.

最优诊断树、故障诊断、AO*算法、启发函数

TN06(一般性问题)

2012-03-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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