期刊专题

10.3969/j.issn.1563-4795.2011.04.001

并联MOSFET的雪崩特性分析

引用
文中给出了准动态热模型中的一个雪崩扩展特性,深入研究了电流及热分布对于并联功率MOSFET在雪崩条件下的状态.同时分析了击穿电压的统计分布、热损毁的统计分布、终端杂散电感的影响以及热耦合对最终的电气特性和并联器件的热平衡的影响,设计时考虑了这些因素,可以提高可靠性.文中的结论可以为设计师们在大功率MOSFET器件并联应用方面提供有效的指导.

准动态MOSFET模型、雪崩、杂散电感、击穿电压

13

TN3;TU2

2011-07-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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电子元器件应用

1563-4795

N陕新出印9621

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2011,13(4)

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