片上NOR-flash内嵌自测试的算法选择

摘要：

从flash存储器的基本工作原理出发,基于flash错误模型的总结性研究,重点对Flash-march算法、March-FT算法、BF&D算法以及Cocktail-March算法的效率进行了分析和评价,并针对不同需求的flash自测试提出了其算法选择方案.

关键词：flash、内建自测试算法、片上系统

所属期刊栏目：12

分类号：TU7;TN9

在线出版日期：2011-01-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：24-27