电子元器件失效机理验证试验

摘要：

以某重点型号工程上失效的KG25A电路的失效模拟和失效机理验证为例,重点说明元器件的1种重要失效机理--电过应力(EOS)损伤模拟试验的方法和步骤,同时归纳出元器件失效模拟和失效机理验证的一般程序和方法.

关键词：失效机理、电过应力、模拟试验

所属期刊栏目：5

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2007-07-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：50-53