电子材料及其元器件的温频特性测试箱

摘要：

介绍一种电子材料及元器件的片式样品温频特性测量用的测试箱.该测试箱不仅能够实现-150℃～+250℃的线性变温或定点恒温测试,而且可以消除仪器到试样的引线传递误差和干扰误差,在给定测试范围内实现稳定、可靠的测试.

关键词：电子材料、片式元件、温频特性

所属期刊栏目：4

分类号：TM931

在线出版日期：2007-07-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：41-45