仪器漏电引起的CMOS电路闩锁

摘要：

以某整机在调试过程中发生的一只CMOS驱动门电路的闩锁失效为例,具体分析了测试仪器感应漏电引起CMOS电路闩锁的现象、机理和原因,具有一定的典型性.

关键词：互补型金属氧化物半导体集成电路、闩锁、使用失效

所属期刊栏目：4

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2007-07-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：26-27,40