CMOS模拟开关的失效分析及使用可靠性

摘要：

本文结合CMOS模拟开关的特点,介绍了这类电路的失效分析方法.同时,在总结了大量失效分析案例的基础上,讨论了其有特殊的使用可靠性问题.并对使用中应注意的问题提出了建议.

关键词：CMOS模拟开关

所属期刊栏目：3

分类号：TN409(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2007-07-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：27,37