10.19772/j.cnki.2096-4455.2022.1.055
小弯曲半径下光纤宏弯损耗测试的拟合方法研究
本文分析了在小弯曲半径下提高光纤的测试准确性的拟合方法,通过研究光纤弯曲形态探索影响光纤宏弯损耗的各种因素.与此同时,本文对不同的拟合方法进行对比,在一定程度上保证了光纤宏弯损耗测试的拟合方法的有效性以及合理性,同时选择出了在小弯曲半径下光纤宏观损耗测试的最佳拟合方法.
光纤工程、宏弯损耗、拟合方法、小弯曲半径
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TN253(光电子技术、激光技术)
2022-08-26(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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