一种12.5Gbps JESD204B接口芯片量产测试技术

摘要：

支持高速JESD204B接口的产品已大量面世,为满足JESD204B接口芯片量产测试的需求,本文就JESD204B接口芯片开展测试技术研究,提出了一种12.5Gbps JESD204B接口芯片的量产测试方法.该方法基于自动测试设备(ATE,Automated Test Equipment)自主设计了高速串行接口芯片测试系统,实现对JESD204B接口芯片的量产测试.通过高速信号完整性设计,实现16Gbps高速信号100％的传输准确率;基于ATE实现JESD204B协议发送端、接收端设计,实现12.5Gbps JESD204B接口芯片量产测试技术.最后对两款具备12.5Gbps JESD204B接口的芯片进行功能验证和参数测试,测试结果符合测试指标要求,测试方法可行有效.

关键词：高速串行接口测试、ATE测试、JESD204B协议、测试系统

所属期刊栏目：5

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2022-05-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：54-56,142