关于泊松分布法的集成电路寿命分析

摘要：

集成电路的可靠性分析通常以其平均无故障时间的计算为基础.本文通过浴盆曲线介绍了集成电路的早期失效期、偶然失效期与损耗失效期,论证了集成电路的使用寿命符合泊松过程,基于泊松过程与集成电路的失效规律分析了集成电路的平均无故障时间的计算方法,以俄制k133πA3型单片TTL小规模半导体集成电路运行故障数据为基础,分析了平均无故障时间的计算与使用方法的可靠度.

关键词：浴盆曲线;泊松分布;失效规律;平均无故障

所属期刊栏目：5

分类号：TM7(输配电工程、电力网及电力系统)

在线出版日期：2021-12-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：16-18