集成电路测试技术研究

摘要：

随着我国科学技术水平的发展,电子信息技术也取得了不小的进步,在这种情况下,集成电路测试技术更应该努力实现突破.因为集成电路设计开发过程非常复杂,对相关人员的操作有更加严格的要求,这也是为了保证电子产品的质量.为此,本文主要分析集成电路测试的目的,集成电路测试的分类,以及集成电路测试技术的应用.

关键词：集成电路、测试技术、应用

所属期刊栏目：4

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2020-11-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：12-14