采用双向推拉试验向量实现SRAM高温动态老炼

摘要：

试验向量生成和相应试验线路(老化板)图的设计,是进行IC(集成电路)高温动态老炼(化)试验过程的输入条件重要内容.在此从IC的测试向量原理、试验方法和程序要求出发,确定了一种IC高温动态老化系统进行具有较复杂功能的IC同一I/O引脚须同时序完成动态输入、输出和多地址单元数据存储功能并施加高温、负载和持续时间应力及波形监测的试验向量及老炼试验方法.以一种实际的双向推拉试验向量技术实现了SRAM CY7C199器件老炼试验为例,证实了此方法的可行性,并最终得到IC生产检验所需的试验向量和老炼试验方法文本.该方法有较好的实用性,对类似的较复杂功能器件(RAM、CPU、Flash、FPGA、ISPPLD、DSP、D/A等)的试验向量和试验方法生成,也有参考意义.

关键词：测试向量、试验向量、双向推拉、SRAM最小系统试验线路原理、IC高温动态老化系统、试验实现

资助基金：军用电子元器件 SRAM SG7C199 电路筛选试验、可靠性检验老化系统项目HK20160706CYF

在线出版日期：2019-06-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：6-10