集成电路动态闩锁效应检测方法研究

摘要：

本文首次提出集成电路动态闩锁检测方法,用于检测集成电路的真实闩锁防护能力等级,从而为军用集成电路产品闩锁检验提供依据.文中研究了FPGA和D/A转换器等典型集成电路的动态闩锁配置程序设计和试验程序设计等,对FPGA和D/A转换器进行了动态闩锁试验验证,并和静态条件下的试验结果进行对比.试验结果表明,动态条件下的闩锁效应相对静态有较明显的恶化.

关键词：集成电路、动态闩锁效应、恶劣条件、失效机理、静态条件

资助基金：装备发展部共性项目:军用集成电路高温动态闩锁检测技术研究1707WG0004

在线出版日期：2018-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：81-84,92