FPGA可编程资源测试技术研究

摘要：

随着FPGA集成度和微电子工艺的不断提升,其复杂性必然会导致电路中存在各种故障的隐患.因此,为了保证FPGA芯片的可靠性和安全性,对FPGA的测试尤为重要.在本文中,首先介绍FPGA的背景及其特点,然后提出了对于FPGA测试的必要性,并基于SRAM型FPGA的基本结构,分别从可编程逻辑资源、内嵌功能模块和可编程互联资源等方面介绍FPGA可编程资源的测试技术.主要利用"分治法"对不同的模块组成部分采取不同的测试方法,分别设计相应的测试文件,对FPGA进行多次的配置和测试,在各个测试文件里尽量全面地考察对应部分的资源.最后本文从FPGA测试的热点问题,对当前FPGA测试的发展趋势进行了探讨.

关键词：SRAM型FPGA、测试技术、发展趋势

在线出版日期：2018-10-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：59-62