反熔丝和Flash FPGA对造成器件功能故障具有免疫能力

摘要：

@@ 在设计高可靠性系统时,无论是陆地、航空或太空应用,设计人员都必须非常小心地选择器件技术.如果选择不当会导致FlT(Failures In Time)大幅度提高,即使基站应用也不例外.

机标关键词：反熔丝、器件、功能故障、高可靠性系统、应用、选择不当、设计、太空、人员、陆地、技术、基站、航空

分类号：TN4;V26

在线出版日期：2005-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：27-29