吉时利(Keithley)引进第三代晶圆射频(RF)测量功能

摘要：

@@ 吉时利仪器公司(NYSE:KEI)一家为不断增长的测量需求提供解决方案的市场领导者,最近发布了用于半导体生产过程中参数测试的第三代晶圆射频(R F)测量功能.对于吉时利公司第三代射频(RF)参数测量系统方案(是一个选配件),其独特的新内容是能提供连续、自动、实时的测试质量监控,在提供优等质量结果的同时,也获得了最高测量产能、最低运行成本,以及易于使用的特点.此外,吉时利公司的射频(RF)参数测量选项是目前惟一一个在全球范围内获得验证的,适合于200mm和300mm晶圆制造工厂的半导体参数射频(RF)测试系统,适用于包括高性能逻辑电路生产和高性能模拟集成电路生产.

机标关键词：吉时利、晶圆、射频、参数测量、集成电路生产、高性能、测试系统、半导体、市场领导者、质量监控、制造工厂、运行成本、性能模拟、系统方案、生产过程、逻辑电路、解决方案、测量需求、测量功能、参数测试

分类号：TM9;TN3

在线出版日期：2005-05-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：18-19