原子级电子断层成像技术进展及应用

摘要：

基于电子显微学的原子级三维重构技术对揭示材料的微观结构,加深材料结构和性能关系的理解具有极为重要的意义.原子级电子断层成像技术(atomic electron tomography,AET)作为当前最先进的三维重构技术之一,已先后成功表征了纳米颗粒中原子位置、晶体缺陷、早期形核过程中原子的动态变化及非晶态固体的三维原子结构.本文综述了AET的流程及应用的突破,以期望读者了解AET的基本原理流程和应用,并探讨未来AET在解决物理、化学、材料科学等领域基础问题的前景与挑战.

关键词：三维重构、原子级电子断层成像技术、扫描透射电子显微镜、纳米材料

所属期刊栏目：42

分类号：TB383;TG115.21+5.3;TN16(工程材料学)

资助基金：西湖未来产业研究中心资助项目

在线出版日期：2023-10-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共10页

页码：505-514