基于EFTEM技术测定单晶SrTiO3的电子非弹性平均自由程

摘要：

材料的电子非弹性平均自由程(λ)是描述电子在材料中的输运性质的重要参数.然而通过实验技术直接获取材料的λ较为困难.本文介绍了一种基于EFTEM实验技术获取SrTiO3 单晶λ的方法:(1)采用聚焦离子束(FIB)技术制备了具有梯度厚度(100～800 nm)的SrTiO3 截面样品I,并利用EFTEM得到SrTiO3 薄片各个阶梯区域t与λ的比值a;(2)利用FIB将截面样品Ⅰ进行二次加工得到截面样品II,并利用透射电子显微技术(TEM)直接测量各个梯度区域的t,λ即为 t与a的比值.实验中测得单晶SrTiO3＜001＞和＜110＞方向的λ分别为 124.7 nm和 120.7 nm.研究结果对利用EFTEM技术测量λ具有重要的指导意义.

关键词：SrTiO3、电子非弹性平均自由程、厚度测量、能量过滤透射电子显微技术、透射电子显微学

所属期刊栏目：42

分类号：TG115.21;O766;O799;O722;O739;TN16(金属学与热处理)

资助基金：国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金;湖北省青年拔尖人才计划;中央高校基本科研业务费专项;深圳市科创委基础研究面上项目

在线出版日期：2024-01-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：441-448