10.3969/j.issn.1000-6281.2021.06.005
激励频率对TM-AFM相位成像的影响
相位成像是轻敲模式下原子力显微镜(tapping mode atomic force microscope,TM-AFM)最具有特色的成像方式.本文以获得高质量的相位像为主要研究目的,利用Euler-Bernoulli(欧拉-伯努利)梁方程,将系统动力学模型简化为基于支承运动的弹簧谐振子模型,推导出相位与激励频率之间的关系.实验结果与理论分析一致,这一结论对于寻找TM-AFM操作中最合适的激励频率范围具有重要意义.
原子力显微镜;轻敲模式;激励频率;相位成像;相位对比度
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O657;Q6-3;TH742;O322;O326;TH742.9(分析化学)
国家自然科学基金No.NSFC11572031
2022-01-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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665-670