内嵌金属富勒烯Gd@C82在Cu(111)和Pt(111)表面吸附结构的STM研究

摘要：

利用扫描隧道显微镜(STM)研究分析了内嵌金属富勒烯分子Gd@C82在Cu(111)和Pt(111)上的低温(200 ～250 K)生长方式和吸附结构.不同强弱的分子-衬底间相互作用导致Gd@C82在Cu(111)和Pt(111)上的生长方式有很大区别.经过热处理后,Gd@C82分子诱导Cu(111)衬底发生重构,而在Pt(111)上未发现此现象.两种金属衬底不同的晶格常数和电子性质导致退火后的分子自组装结构也不一样:Gd@C82在Cu(111)上形成等价的两种吸附结构,即(√19 × √19)R23.4°和(√19×√19) R36.6°；分子在Pt(111)上形成一种与<1(1)0>方向一致的密堆积结构.

关键词：金属富勒烯、扫描隧道显微镜、吸附结构

所属期刊栏目：32

分类号：TB383;TG115.21+5.7;TN16(工程材料学)

资助基金：国家自然科学基金资助项目11004219

在线出版日期：2013-10-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：331-336