利用AFM探针施加的正偏压提高单个DNA分子的分离效率

摘要：

基于原子力显微镜(AFM)的分子操纵技术能通过AFM针尖将云母表面的单个DNA分子分离(拾取),通过单分子PCR和Sanger法测序,可以得到任何感兴趣的单个DNA片段的序列.然而在实际操作中,由于针尖-DNA吸附力不足以克服云母表面-DNA吸附力,衬底表面的DNA分子被分离的成功率往往较低.本文改进了原子力显微镜(AFM)针尖对云母表面单个DNA分子的分离(拾取)方法,通过对导电的AFM针尖施加正偏压,使针尖与负电荷的DNA分子形成较强的静电吸引力.结果表明,在针尖施加偏压后,表面的DNA分子能被高效的分离;而在未施加偏压的情况下,表面的DNA分子容易被针尖“搓揉”成球状的颗粒,但比较难分离.说明该方法能明显提高DNA分子从云母表面的分离效率.此外,被AFM针尖分离的DNA可通过单分子PCR技术成功扩增,说明对AFM探针施加正偏压来分离DNA不会影响其生物活性.

关键词：原子力显微镜、DNA分离、正偏压、静电吸引力

所属期刊栏目：32

分类号：TH742.9;Q523;O488;TG115.21+5.7(仪器、仪表)

资助基金：国家自然科学基金资助项目.10975175、90923002、21073222和11079050;中国科学院知识创新工程重要方向资助项目KJCX2-EW-N03

在线出版日期：2013-07-03（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：139-143