电场力显微镜不同探针对表面电荷注入的影响

摘要：

在电场力显微镜(EFM)下利用不同金属镀层微探针,在微纳米尺度下对聚酰亚胺薄膜的表面电荷生成特性进行研究.采用电场力显微镜导电探针在聚酰亚胺薄膜表面注入电荷,并对微纳米区域产生的电荷进行表征,结果表明不同金属镀层的微探针对聚酰亚胺薄膜上电荷注入效果不同.铂铱合金镀层具有比钴铬合金镀层更高的功函数f(m),因此前者在金属—电介质接触中产生更大肖特基势垒,进而降低了电荷的注入程度.该研究为微纳米尺度下探索聚合物绝缘材料表面电荷生成、发展机理提供了一个新的研究方法和途径.

关键词：电场力显微镜、表面电荷、功函数、肖特基效应

所属期刊栏目：31

分类号：TM934.3;O484.4;TG115.21+5.7

资助基金：国家重点基础研究发展973计划2009CB724505;国家自然科学基金资助项目50977020

在线出版日期：2012-09-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：217-220