高角环形暗场成像方法测定负载型纳米贵金属催化剂的粒径

摘要：

高角环形暗场(HAADF)像的衬度与样品中平均原子序数的平方成正比,并且具有原子尺度的分辨率,因此可以有效地区分贵金属颗粒和催化剂载体,非常适于测量负载型纳米贵金属催化剂中活性中心颗粒的粒径.本文以Pd/ZnO催化剂为例,介绍利用HAADF成像法测定负载型纳米贵金属催化剂中贵金属粒径的方法.

关键词：高角环形暗场像、透射电子显微学、贵金属催化剂

所属期刊栏目：30

分类号：O766+.1;TG115.21+5.3;O643.3(晶体结构)

资助基金：国家自然科学基金资助项目21071016

在线出版日期：2011-12-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：191-194