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10.3969/j.issn.1000-6281.2004.03.013

电弧离子镀薄膜中的颗粒尺寸及其影响的扫描电镜观察

引用
用扫描电镜对比分析了电弧离子镀增加直线磁场过滤对沉积TiN和TiAlN薄膜中颗粒的密度和尺寸的影响.结果表明,TiN薄膜中颗粒的最大直径,从14μm减小到3μm,颗粒密度从109/cm2降低到105/cm2.TiAlN薄膜由于靶材中含有低熔点金属Al,因而发射出更大的颗粒,有的颗粒集团达到20μm,磁场过滤后颗粒尺寸减小,颗粒密度降低到106/cm2.分析了脉冲叠加直流偏压对TiCeZrN复合薄膜相组成的影响.颗粒可使电弧离子镀TiN/CrN多层膜的结合力降低,并使针孔产生遗传.使用直线型磁场过滤及脉冲叠加直流偏压不仅使颗粒密度和尺寸显著降低和减小,而且多层化对小颗粒产生了包覆作用.

电弧离子镀、颗粒、磁场过滤、扫描电镜

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O462.5;TB383;TG115.21+5.3(真空电子学(电子物理学))

国家重点实验室基金01-03

2004-08-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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1000-6281

11-2295/TN

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2004,23(3)

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