镜像法高温超导薄膜表面电阻测试装置的改进

摘要：

介绍了一种新的镜像法高温超导薄膜微波表面电阻测试装置,采用小孔对谐振腔内的电磁能量进行耦合,并通过一段6 mm×3 mm×8 mm的填充氧化铍陶瓷介质的波导对电磁能量进行传输,通过在陶瓷块剖面焙银的方法实现磁耦合.与以往的镜像法测试装置相比,该装置易于仿真和制作.使用该装置对两片高温超导薄膜的微波表面电阻进行了测试,并对其中一片高温超导薄膜进行了6次微波表面电阻重复性测量,其表面电阻值Rs(10GHz,77 K)的平均值为0.38 mΩ,标准偏差为0.009 mΩ,相对偏差(COV)为2.4%.测试结果表明,该装置具有良好的稳定性.

关键词：高稳定性、高温超导薄膜、陶瓷焙银、微波表面电阻值测试

所属期刊栏目：38

分类号：TN129(真空电子技术)

资助基金：国家863计划TC265-0304

在线出版日期：2009-05-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：214-217