基于JTAG的高效调试系统设计与实现

摘要：

为了给自研处理器芯片提供一种高效方便的调试方法,提出了一种基于JTAG的片内调试系统设计方法.该调试系统在遵循JTAG标准协议的基础上,简化片内调试硬件模式设计,以较少的硬件开销和精简高效的专用调试指令设计,不仅实现了调试中断、指令/数据断点设置、单步执行及寄存器/存储器数据读写等基本调试功能,还支持现场保护与恢复、Trace Buffer、指令插入执行等高级调试功能.经实际芯片测试证明,该调试系统具有兼容JTAG协议、功能全面、灵活高效、结构简单、便于操作等特点.

关键词：调试系统、JTAG接口、IEEE1149.1、TAP控制器

所属期刊栏目：49

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2023-04-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：39-43