芯片样品验证平台自适应和同步测试功能的设计与实现

摘要：

目前,芯片设计公司在对量产级的芯片进行样品验证时,传统的样品验证方法大多是基于芯片自身特点来设计相应的测试设备,然后通过测试夹具对芯片样品逐一测试,不同的芯片会设计不同的测试设备.提出了一种自适应且可同步测试的样品验证平台方案,既可以实现同时测试多颗芯片,也可以对不同接口的芯片进行测试;既可以进行可靠性实验测试,也可以进行其他功能的测试,大大节省了测试设备的维护成本,提高测试效率.

关键词：自适应、同步测试、样品验证、测试平台

所属期刊栏目：49

分类号：TN06(一般性问题)

在线出版日期：2023-03-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：55-60