一种用于高频S参数的去嵌算法

摘要：

在S参数的测量过程中,需通过去嵌方法去除测试夹具带来的结果误差.该算法通过时域的方法对夹具进行分解.接着将分解得到的夹具S参数采用ABCD矩阵运算进行去除,从而得到待测器件的S参数.通过设计测试板来进行实验,将该算法与传统的AFR和Delta L方法进行了比较,验证了该去嵌算法对高频信号的有效性以及准确性.同时由于该算法先分解再去嵌的特性,使其可应用于左右夹具不一致的情况.

关键词：S参数、去嵌、高频信号、ABCD矩阵

所属期刊栏目：49

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2023-02-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：130-134