eFuse失效分析与可靠性电路设计

摘要：

电编程熔丝(eFuse)基于电子迁移原理,通过熔断熔丝使其电阻特性发生不可逆改变来实现编程操作.提高可靠性是eFuse系统和电路优化设计的核心 目标.从eFuse工作原理以及失效模式分析入手,重点介绍了影响其可靠性的系统原因和主要机理及过程,并在综合常规电路设计基础上,结合考虑各种工作模式下和具体模块中存在的影响可靠性的因素,最后提出了具有针对性的电路设计解决方案.

关键词：eFuse、可靠性、失效模式、电路设计

所属期刊栏目：49

分类号：TN406(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2023-02-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：26-31