期刊专题

10.16157/j.issn.0258-7998.201177

一种用于时间交织型SAR ADC的电容校正技术

引用
时间交织型SAR ADC对包括电容失配在内的通道间失配较敏感,其中电容失配既包括通道内的失配也包括通道间的失配,是影响时间交织型SAR ADC性能的重要因素.为了提升时间交织型SAR ADC的性能,基于对SAR ADC中DAC电容失配对时间交织型SAR ADC影响的分析,结合单通道低速工作SAR ADC的电容校正方法,提出了一套适用于时间交织型SAR ADC的电容校正方法,实现了超过9 dB的SFDR和超过2.5 dB的SNDR性能提升.

时间交织、逐次逼近模数转换器、电容失配、校正技术

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TN432(微电子学、集成电路(IC))

2021-08-02(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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电子技术应用

0258-7998

11-2305/TN

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2021,47(7)

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