基于近场测试的自参考算法

摘要：

对于集成度高的天线,必须采用一定的算法才能实现对各个通道的幅度和相位信息准确有效的检测,而现有常见的算法(包括近场校准、FFT算法等)都需要获得相位信息,因此需要天线对测试提供参考通道.这与天线高集成度相悖,也对天线的设计,特别是共形天线的设计提出了更高要求.为解决传统算法依赖参考通道提供参考相位的问题,并针对高集成度天线常用的近场扫描测试系统,设计了自参考算法的解决方案并进行验证.试验表明,采用自参考测试算法进行近场测试的测试结果与传统带独立参考通道的近场测量系统测试结果高度吻合.此外,采用自参考测试算法,不需要单独的参考通道,适用于高集成一体化天线的近场测试,对于已装机的天线现场测试排故具有重要意义.

关键词：自参考、近场测试、高集成度、相控阵

所属期刊栏目：45

分类号：TN98

在线出版日期：2019-08-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：91-94,98