多时钟域并行测试控制器的设计

摘要：

采用了IEEE1149中TAP控制器的概念与IEEE1500 wrapper的概念相结合,设计出一款基于IEEE1500测试标准同时兼容IEEE 1149测试标准的测试控制器,并设计了满足不同时钟域同时并行配置通用寄存器的功能,可以节省多个时钟域串行配置寄存器的时间,提高了测试效率.结果中的verdi仿真图表明文章所设计的测试结构达到了预期.

关键词：IEEE1500标准、IEEE1149标准、TAP、wrapper、测试

所属期刊栏目：42

分类号：TP368.1(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2016-09-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：29-31,35