基于PLLFS锁定时间的测量方法误差分析

摘要：

随着跳频通信的发展,锁相环频率综合器的锁定时间被限定得愈发严格,TD-LTE标准中已被缩短到20 μs,这要求研发人员精准地把握锁定时间.使用信号源分析仪能够快速且准确地测出锁定时间,但是国内的高校和研究单位还没有广泛普及,目前测试锁定时间的方法混杂,测试误差极大,始终没有形成统一的业内标准方法.鉴于此,选用了一款基于ADF4351的PLLFS模块作为固定测试对象,分别采用5种不同方法针对同一跳变频点的锁定时间进行了实测,并首次以“信号源分析仪法”的测试结果为标准,横向对比了“频谱仪测量法”、“示波器直接测量法”、“检测VCO调谐电压法”和“检测LD引脚法”的测量误差,对比发现这4种方法无法满足100 μs内锁定时间的测试需求,必须使用信号源分析仪才能测得准确的锁定时间.

关键词：频率综合器、锁相环、锁定时间、ADF4351、测试

所属期刊栏目：42

分类号：TN742(基本电子电路)

在线出版日期：2016-06-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：41-45