基于SRAM型FPGA的SEU敏感性研究

摘要：

目前星载信号处理平台中大量使用商用芯片,但商用芯片抗辐射能力较弱,在空间环境下常出现单粒子翻转(Single Event Upset,SEU),从而造成系统功能紊乱,甚至中断.提出以星载信号处理平台中大量使用的SRAM型FPGA为研究对象,采用故障注入的方式研究FPGA中不同硬件资源对于SEU效应的敏感性问题.根据不同资源对SEU效应表现出不同敏感性的结论,可在SRAM型FPGA的抗SEU防护上进行有针对性的设计.

关键词：单粒子翻转、SRAM、FPGA、故障注入、敏感性

所属期刊栏目：42

分类号：TN47;V19(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划2012AA01A502

在线出版日期：2016-08-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：53-56