CPLD器件测试系统

摘要：

以Lattice公司的ispLSI1032E为被测对象,设计出一套测试装置,对该芯片的性能指标和可能出现的故障进行测试.本装置只需配置三次电路和施加相应的测试向量就能对芯片进行全面的测试,提高了测试效率,实用价值很高.

关键词：PLD测试、ispLSI1032E、性能指标、测试效率

所属期刊栏目：38

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2013-01-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：75-76,80