基于IEEE P1500芯核测试控制结构设计

摘要：

讨论了IEEE P1500测试架构,详细分析并实现了IP核的测试环(Wrapper)结构,给出了一种支持该标准的芯片级测试控制结构.该结构能控制基于总线结构的TAM以及P1500 Wrapper,通过芯片级CTAP控制器,支持串行或并行测试访问,实现了核内测试以及核间互连测试.同时该结构只需5根额外测试管脚.

关键词：片上系统、测试环、测试访问机制、IP核

所属期刊栏目：35

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2009-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：100-103