中规模集成电路功能测试仪的设计

摘要：

设计了一款针对学校实验室常用的中规模集成电路芯片的功能测试仪.测试仪的核心AT89C55单片机管理和控制整个测试流程,对测试数据进行处理、判断,并通过LCD、LED显示和指示其测试结果.详细介绍了测试仪的总体设计思路,给出了ADC0809、DAC0832、LM555、SG3524等芯片的详细测试电路图.

关键词：中规模集成电路、功能测试、单片机、D/A转换器

所属期刊栏目：35

分类号：G642.423(高等教育)

在线出版日期：2009-08-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：139-141