使用ADI多种经过验证的工业IC优化温度检测信号链中的过程控制

摘要：

@@ 对于工业传感器过程控制应用的设计师来说,低成本、可靠性和低功耗的目标变得越来越重要.ADI公司扩展了其主性能集成电路(IC)的产品种类以帮助工业系统设计师满足他们的设计要求.

机标关键词：验证、工业系统、优化、温度、检测信号、设计师、控制应用、集成电路、产品种类、可靠性、低功耗、传感器、性能、目标、扩展、成本

所属期刊栏目：33

分类号：TP2;TP3

在线出版日期：2007-12-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：164