内建自测试相移器设计算法的优化

摘要：

在原相移器设计算法的基础上,通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法.实验结果表明,此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成LFSR扇出过大的缺点,而且提高了伪随机测试故障的覆盖率.

关键词：伪随机测试、混合模式测试、相移器、线性反馈移位寄存器、故障覆盖率

所属期刊栏目：33

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2007-07-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：31-33