基于边界扫描技术的测试系统设计

摘要：

随着超大规模集成电路(VLSI)、表面安装器件(SMD)、多层印制电路板(MPCB)等技术的发展,电路板的常规测试方式面临挑战.介绍了边界扫描技术及边界扫描测试的基本原理,提出了一种基于边界扫描技术的测试系统方案及其实现,并着重介绍了JTAG总线控制器的设计.

关键词：边界扫描、内建自测试、可测性设计

所属期刊栏目：32

分类号：TP3(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2006-04-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：95-97